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Keithley4200A-SC參數分析儀半導體測試系統
| 產品技術資料 | 型號 | 說明 | 價格 |
|---|---|---|---|
| 查看規格書 | 4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
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| 查看規格書 | 4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對于高 K 電解質，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
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| 查看規格書 | 4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 | 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
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| 查看規格書 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用* CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括：
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Keithley4200A-SC參數分析儀半導體測試系統